000 01498nab a2200301 i 4500
001 039049
005 20251030134049.0
007 t|
008 150107s0000####ck##################spa#d
022 _a0120 6052
040 _aCO-ViULL
_erda
_bspa
041 0 _aspa
043 _ack
100 1 _aArroyave franco, Mauricio
_9145369.
245 1 3 _aLa Microscopía de Barrido por Sonda: Herramienta Básica en las Nanociencias /
_cArroyave Franco, Mauricio.
300 _bilustraciones.
310 _amensual
336 _atexto
_btxt
_2rdacontent
337 _asin mediación
_bn
_2rdamedia
338 _avolumen
_bnc
_2rdacarrier
520 _aLa última generación en tecnoligía microscópica , ha puesto en escenario un conjunto de técnicas genéricamente denominadas Microscopía De Barrido Por Sonda ( Scanning Probe Microscopy - SPM). Tales herremientas dan la posibilidad de realizar el análisis detallado de propiedades morfológicas, mecánicas, químicas, entre otras, de la superficie estudiada, con resoluciones que en algunos casos son mayores que las logradas en microscopía electrónica.
650 0 7 _aMICROSCOPIA
_xPUBLICACIONES SERIADA
_9145370.
650 0 7 _aMATERIALES
_xPUBLICACIONES SERIADA
_9145371.
650 0 7 _aNANOCIENCIAS
_xPUBLICACIONES SERIADA
_9145372.
650 0 7 _aBARRIDO TUNEL
_xPUBLICACIONES SERIADA
_9145373.
773 0 _tRevista Universidad EAFIT
_dMedellín : Universidad de Antioquia
_gVol.44, No.151, (2008). -- p 68-83
_x0120-341-X
942 _2ddc
_cAS
999 _c35454
_d35454