La Microscopía de Barrido por Sonda: Herramienta Básica en las Nanociencias / Arroyave Franco, Mauricio.

By: Material type: ArticleLanguage: Spanish Description: ilustracionesContent type:
  • texto
Media type:
  • sin mediación
Carrier type:
  • volumen
ISSN:
  • 0120 6052
Subject(s): In: Revista Universidad EAFIT Medellín : Universidad de Antioquia Vol.44, No.151, (2008). -- p 68-83Summary: La última generación en tecnoligía microscópica , ha puesto en escenario un conjunto de técnicas genéricamente denominadas Microscopía De Barrido Por Sonda ( Scanning Probe Microscopy - SPM). Tales herremientas dan la posibilidad de realizar el análisis detallado de propiedades morfológicas, mecánicas, químicas, entre otras, de la superficie estudiada, con resoluciones que en algunos casos son mayores que las logradas en microscopía electrónica.
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La última generación en tecnoligía microscópica , ha puesto en escenario un conjunto de técnicas genéricamente denominadas Microscopía De Barrido Por Sonda ( Scanning Probe Microscopy - SPM). Tales herremientas dan la posibilidad de realizar el análisis detallado de propiedades morfológicas, mecánicas, químicas, entre otras, de la superficie estudiada, con resoluciones que en algunos casos son mayores que las logradas en microscopía electrónica.

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