02182nam a2200313 450000500170000000600190001700800410003602000180007704000130009504100080010808200220011610000270013824500710016525000190023626400340025530000500028933600270033933700330036633800280039949000390042750000530046650505080051952006870102765000310171465000290174565000280177465000370180265000290183920260723142957.0a|||||r|||| 00| 0 260723b |||||||| |||| 00| 0 spa d a9780387310732 aCO-ViULL hspa042ddca006.31bB6221 aBishop, Christopher M.10aPattern recognition and machine learning /cChristopher M. Bishop. a1ª edición. 1aNueva York :bSpringer,c2009 a738 páginas :bfiguras ;c24 centímetros. 2rdacontentatextobtxt 2rdamediaasin mediaciónbn 2rdacarrieravolumenbnc0 aInformation science and statistics aIncluye referencias bibliográficas e índice.0 a1. Introducción -- 2. Probabilidad -- 3. Modelos lineales para regresión -- 4. Modelos lineales para clasificación -- 5. Redes neuronales -- 6. Métodos kernel -- 7. Modelos gráficos -- 8. Métodos de aproximación -- 9. Mezclas gaussianas -- 10. Inferencia aproximada -- 11. Muestreo -- 12. Modelos secuenciales -- 13. Modelos de mezcla y aprendizaje no supervisado -- 14. Modelos de variables latentes -- 15. Aprendizaje de máquinas de soporte vectorial -- 16. Reconocimiento de patrones. aThis is the first textbook on pattern recognition to present the Bayesian viewpoint. The book presents approximate inference algorithms that permit fast approximate answers in situations where exact answers are not feasible. It uses graphical models to describe probability distributions when no other books apply graphical models to machine learning. No previous knowledge of pattern recognition or machine learning concepts is assumed. Familiarity with multivariate calculus and basic linear algebra is required, and some experience in the use of probabilities would be helpful, though not essential, as the book includes a self-contained introduction to basic probability theory. 0aReconocimiento de patrones 0aAprendizaje automático 0aInteligencia artificial 0aRedes neuronales (Informática) 0aMétodos estadísticos