03218nam a22003257i 4500 20251030135924.0 240418s2020 ||||| |||| 00| 0 spa d CO-ViULL rda spa spa ELE 0412 Collazos Grijalba, Santiago 161704, autor. aut Termografía en fuentes lineales y no lineales AC/DC basados en dispositivos de potencia. Villavicencio, Meta : Universidad de los LLanos, 2020. 87 páginas : Incluye ils a color y anexos. texto txt rdacontent sin mediación n rdamedia volumen nc rdacarrier Incluye tabla de contenido. Trabajo de grado presentado como requisito para optar al título de Ingeniero Electrónico. Incluye referencias. 48 Resumen y palabras clave. – introducción. -- 1 planteamiento del problema. -- 1.1 descripción del problema. -- 1.1.1 contextualización del problema. -- 1.1.2 importancia del problema. -- 1.1.3 finalidad del problema. -- 1.1.4 alcance del problema. -- 1.2 formulación del problema. -- 1.3 objetivos. -- 1.3.1 objetivo general. -- 1.3.2 objetivos específicos. -- 1.4 justificación. -- 2 marco de referencia. -- 2.1 estado del arte. -- 2.2 marco teórico. -- 2.2.1 fuente de tensión lineal. -- 2.2.1.1 integrados y configuraciones. -- 2.2.2 fuente conmutada. -- 2.2.2.1 integrados y configuraciones. -- 2.2.3 termografía. -- 3 metodología. -- 3.1 diseño y materiales. -- 3.1.1 fuente lineal. -- 3.1.2 fuente conmutada. -- 3.1.3 equipos. -- 3.2 métodos analíticos. -- 3.2.1 análisis, diseño y cálculos de fuente lineal 33 3.2.1.1 diseño fuente lineal. -- 3.2.1.2 cálculo para la señal del ne555. -- 3.2.1.3 obtención de señales en desfase del cd4017. -- 3.2.1.4 conexiones al controlador ir2110. -- 3.2.2 análisis, diseño y cálculos fuente conmutada. -- 3.2.2.1 diseño de fuente no regulada. -- 3.2.2.2 diseño fuente de alimentación. -- 3.2.2.3 cálculos del inductor y capacitor para circuito buck. -- 3.2.2.4 configuración del oscilador interno del tl494. -- 3.2.2.5 conexiones al tl494. -- 3.2.2.6. -- amplificador de error. -- 3.2.2.7 limitador de corriente. -- 3.2.2.8 cálculo de resistencias de carga. -- 3.2.2.9 aproximaciones de valores para las resistencias. -- 3.2.3 caracterización cámara térmica. -- 3.2.3.1 análisis termográfico. -- 3.2.3.2 captación de calor. -- 3.2.4. -- resultados y discusión 59 3.2.4.1 análisis matemático fuente lineal. -- 3.2.4.2 análisis matemático fuente conmutada 64 - -- conclusión. -- referencias. -- anexos. El calentamiento excesivo en los dispositivos electónicos es una de las principales casas de las cuales pueden llegar a presentar fallas, esto puede ocasionar multiaccidentesn a nivel laboral, generando pérdidas en empresas debido al mal funcionamiento o daños en equipos que pueden grandes costos, Monitoreo Cámara térmartica 161705. Integrados de potencia 161706. Análisis termográfico Padilla Parrado, Diego Eduardo 161707. ddc TE 47677 47677 0 0 ddc 0 0 001 001 TE 2024-04-18 0 ELE 0412 087249 2024-04-18 00:00:00 Ej.:1 2024-04-18 ELE TE