01515nab a2200301 i 450000100070000000500170000700700030002400800410002702200140006804000230008204100080010504300070011310000390012024501150015930000190027431000120029333600270030533700330033233800280036552004800039365000480087365000470092165000490096865000500101777301170106794200120118499900170119603904920251030134049.0t|150107s0000####ck##################spa#d  a0120 6052  aCO-ViULLerdabspa0 aspa  ack1 aArroyave franco, Mauricio9145369.13aLa Microscopía de Barrido por Sonda: Herramienta Básica en las Nanociencias  /cArroyave Franco, Mauricio.  bilustraciones.  amensual  atextobtxt2rdacontent  asin mediaciónbn2rdamedia  avolumenbnc2rdacarrier  aLa última generación en tecnoligía microscópica , ha puesto en escenario un conjunto de técnicas genéricamente denominadas Microscopía De Barrido Por Sonda ( Scanning Probe Microscopy - SPM). Tales herremientas dan la posibilidad de realizar el análisis detallado de propiedades morfológicas, mecánicas, químicas, entre otras, de la superficie estudiada, con resoluciones que en algunos casos son mayores que las logradas en microscopía electrónica.07aMICROSCOPIAxPUBLICACIONES SERIADA9145370.07aMATERIALESxPUBLICACIONES SERIADA9145371.07aNANOCIENCIASxPUBLICACIONES SERIADA9145372.07aBARRIDO TUNELxPUBLICACIONES SERIADA9145373.0 tRevista Universidad EAFITdMedellín : Universidad de AntioquiagVol.44, No.151, (2008). -- p 68-83x0120-341-X  2ddccAS  c35454d35454