TY  - SER
AU  - Arroyave franco,Mauricio
TI  - La Microscopía de Barrido por Sonda: Herramienta Básica en las Nanociencias
SN  - 0120 6052
KW  - MICROSCOPIA
KW  - PUBLICACIONES SERIADA
KW  - MATERIALES
KW  - NANOCIENCIAS
KW  - BARRIDO TUNEL
N2  - La última generación en tecnoligía microscópica , ha puesto en escenario un conjunto de técnicas genéricamente denominadas Microscopía De Barrido Por Sonda ( Scanning Probe Microscopy - SPM). Tales herremientas dan la posibilidad de realizar el análisis detallado de propiedades morfológicas, mecánicas, químicas, entre otras, de la superficie estudiada, con resoluciones que en algunos casos son mayores que las logradas en microscopía electrónica
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