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En este trabajo se presenta la automatizacin̤ de un control electrn̤ico digital para la caracterizacin̤ zonal de materiales semiconductores, por medio de la tčnica de Fotorreflectancia (FR) a temperatura ambiente. En este tipo de caracterizacin̤, la interacin̤ de la radiacin̤ con la materia se logra dirigiendo dos hace de luz hacia la muestra mediante arreglos de espejos y lentes, lo cual requiere de una precisa alineacion p̤tica. Por esta razn̤ se agreg a̤l camino p̤tico un servomecanismo para el control digital del posicionamiento de la muestra, dejando fija la zona de incidencia de los haces de la luz, lo cual permitiio desplazar en un sistema coordenado XY la muestra bajo estudio, logrǹdose resoluciones hasta de 1.0 um en ambos ejes.